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半导体抛光用氧化锆CMP浆料

纳米ZrO₂磨料用于化学机械平坦化(CMP)——d50<80 nm、高氧化物去除速率、STI抛光可调选择性。上海赛迈科新材料供应纳米氧化锆。

半导体抛光用氧化锆CMP浆料 — 化学机械平坦化用纳米ZrO₂磨料

化学机械平坦化(CMP)是半导体制造中最关键的工艺步骤之一,要求在埃级精度上实现精确的材料去除和表面平坦化。纳米氧化锆(ZrO₂)磨料颗粒正成为传统胶体硅和氧化铈磨料在特定CMP应用中的高性能替代方案,尤其是浅沟槽隔离(STI)抛光和先进氧化物去除。SEMITECH 供应CMP浆料配方商所需的高纯纳米氧化锆粉体和分散液。

为什么CMP选用纳米氧化锆

业界对氧化锆基CMP磨料的兴趣源于几个固有的材料优势:

  • 硬度优于硅:ZrO₂莫氏硬度约8.5,SiO₂约7。单位磨料浓度的机械去除效率更高,可在等效去除速率下使用更低的固含量(1–5 Wt%对比硅的10–30 Wt%),并降低缺陷率。
  • 化学可调性:氧化锆表面化学为两性——等电点(IEP)在pH 6–7——可通过pH调控实现氧化物(SiO₂)与氮化物(Si₃N₄)薄膜之间的选择性。这对STI CMP要求的高氧化物:氮化物选择比(>30:1)至关重要。
  • 划伤倾向低于氧化铈:氧化铈(CeO₂)磨料可实现优异的氧化物去除速率,但在先进节点(≤7 nm)容易产生深层划伤。d50<80 nm且PSD窄的纳米ZrO₂提供了低缺陷替代方案。
  • 密度:单斜相ZrO₂为5.68 g/cm³——高于硅(2.2)或氧化铈(7.2,介于两者之间),有助于在低固含量下实现有效的机械接触。

CMP应用细分

01

浅沟槽隔离(STI)抛光

STI CMP去除沉积的SiO₂过量层并平坦化晶圆表面,以Si₃N₄衬层为停止层。关键性能指标是氧化物去除速率(ORR)结合高氧化物:氮化物选择比以防止氮化物侵蚀。纳米氧化锆浆料在2–5 Wt%固含量、pH 3–5(酸性区间)下可实现:

指标纳米ZrO₂浆料氧化铈浆料胶体硅
氧化物去除速率(ORR)2000–4000 Å/min3000–5000 Å/min1500–3000 Å/min
氧化物:氮化物选择比20–50:130–100:13–6:1
缺陷密度(>0.1 μm)<0.05/cm²0.05–0.2/cm²<0.02/cm²
固含量2–5 Wt%0.5–2 Wt%10–30 Wt%
磨料d5040–80 nm50–150 nm30–100 nm
02

层间介电(ILD)氧化物抛光

在ILD CMP的大量氧化物去除中,氧化锆浆料在氧化铈的激进去除和硅的温和高固含量方式之间提供了折中方案。较低的固含量降低了耗材成本和抛光垫修整频率。

03

先进封装 — 混合键合表面制备

用于3D IC堆叠的混合键合(hybrid bonding)要求Cu和SiO₂表面均达到亚埃级粗糙度(Ra<0.5 nm)。d50<50 nm的纳米氧化锆磨料正在被评估用于最终抛光步骤,该步骤需要同时以匹配速率去除Cu和氧化物。

CMP磨料用纳米氧化锆规格

性能单位CMP级要求SEMITECH能力
ZrO₂纯度Wt%≥99.9≥99.9
晶相单斜相或四方相均可提供
一次粒径nm20–8020–100(可调)
d50(分散液中)nm<8040–80
BET比表面积m²/g15–6015–80
Fe含量ppm<10<5
Na含量ppm<10<5
Al含量ppm<20<10
颗粒形状球形/等轴等轴

金属杂质控制(Fe、Na、Al、Ca、K均<10 ppm)对半导体级磨料是不可协商的要求。SEMITECH 纳米氧化锆采用水热法或沉淀法生产,通过受控洗涤达到CMP浆料配方商所需的纯度水平。每批附ICP-OES微量金属分析报告。

浆料配方要点

CMP浆料配方商将纳米氧化锆磨料与化学添加剂组合,以实现目标去除速率和选择比:

  • pH调节:STI抛光用酸性区间(pH 2–5);ILD氧化物去除用中性至碱性(pH 7–11)。
  • 氧化剂:金属CMP步骤用H₂O₂(0.5–3 Wt%);纯氧化物抛光通常不加。
  • 表面活性剂/分散剂:聚丙烯酸或聚丙烯酸铵(0.01–0.1 Wt%)用于空间位阻稳定和选择比调控。
  • 螯合剂:混合键合应用中用氨基酸(甘氨酸、脯氨酸)或有机酸络合Cu。

分散稳定性(工作pH下Zeta电位绝对值>30 mV)至关重要。SEMITECH 提供干粉和预分散水性纳米氧化锆(10–30 Wt%固含量)两种形式,满足偏好即用型稀释格式的浆料配方商需求。

为什么选择 SEMITECH

CMP磨料供应链历来依赖日本生产商(第一稀元素、东曹)提供高纯纳米氧化锆。SEMITECH 以中国直供价格提供,较日本进口低30–40%,同时具备半导体供应链所需的纯度文档(ICP-OES全金属扫描、DLS粒度分布、XRD物相鉴定)。可提供500 g–5 kg认证样品用于浆料配方试验。

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03 / 询盘

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